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2017年3月28日，電工委員會（IEC）發(fā)布兩個電子電電器產品中有害物質測試標準：IEC 62321-7-2：2017 通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻和IEC 62321-8：2017 通過GC-MS或Py/TD-GC–MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯。
IEC 62321是電工委員會(IEC)制定的關于電子電氣產品中限用有害物質的測試方法。IEC 62321: 2008六種管控物質（鉛，，鎘，六價鉻，多溴聯(lián)苯，多溴聯(lián)苯醚）的測定，其中包括了，定義，測試方法總述，機械制樣，XRF掃描方法以及各物質的具體測試方法。2013年5月17日開始，IEC發(fā)布新的方法，將IEC 62321: 2008拆分為一系列標準，同時導入了新的測試方法或儀器。
本次更新的 IEC 62321-7-2 通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻中，采用有機溶劑代替熱水提取法從樣品中提取六價鉻。IEC 62321-8通過GC-MS或Py/TD-GC–MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯新增了針對7項鄰苯的兩種測試方法。
2018年，IEC 將更新其它三項標準：IEC 62321-3-2 2.0 使用C-IC對聚合物和電子產品中的氟、溴、氯進行篩選；IEC 62321-3-3 1.0 使用PY-GC-MS、TD-GC-MS對聚合物中的多溴聯(lián)苯、多溴二苯醚 、特定鄰苯二甲酸鹽進行篩選以及IEC 62321-10 1.0 通過GC-MS測定聚合物和電子材料中的多環(huán)芳烴。
目前所有已更新的IEC 62321標準及其變化如下：
| 編號 | 名稱 | 主要變化 |
| IEC 62321-1 | 簡介和概述 | 基本一致 |
| IEC 62321-2 | 樣品的拆卸、拆解和機械拆分 | 基本一致 |
| IEC 62321-3-1 | 電子產品中的鉛、、鎘、總鉻和總溴的篩選 | 基本一致 |
| IEC 62321-3-2 | 使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選 | 新增C-IC方法 |
| IEC 62321-4 | 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的 | 新增熱解析金齊化系統(tǒng)方法 |
| IEC 62321-5 | 使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物和電子材料中的、鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛 | 總鉻的測試要求，新增檢測方法AFS |
| IEC 62321-6 | 使用GC-MS、IAMS和HPLC測定聚合物和電子材料中的多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚 | 新增檢測方法AFS IAMS/HPLC |
| IEC 62321-7-1 | 通過比色法測定金屬無色和有色防腐鍍層中六價鉻 | 對六價鉻結果的陰性陽性判定基準改為小于0.1µg/cm2 |
| IEC 62321-7-2 | 通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻 | 采用有機溶劑從樣品中提取六價鉻 |
| IEC 62321-8 | 通過GC-MS或Py/TD-GC–MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯 | 新增章節(jié)，針對7項鄰苯提出兩種測試方法 |
C-IC 燃燒離子色譜法
PY-GC-MS 熱裂解氣相色譜質譜聯(lián)用儀
IAMS 離子附著質譜法
TD-GC-MS 熱脫附氣相色譜質譜聯(lián)用儀
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