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簡(jiǎn)要描述：玻璃檢測(cè)儀器設(shè)備采用WdxAnalyzer V1工作站，人機(jī)對(duì)話的軟件界面、模塊化的操作按鈕，不同權(quán)限的操作員憑密碼登陸、輸出報(bào)告可選多種模式等特點(diǎn)。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-11-06訪 問(wèn) 量：2955產(chǎn)品分類
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我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。
玻璃檢測(cè)儀器設(shè)備
產(chǎn)品說(shuō)明
U小型多道X射線熒光光譜儀可配置Si、Al、Fe、Ca、Mg、S、K、Na、Cl-九通道，預(yù)留1個(gè)可增加通道位置，同時(shí)分析10種元素。標(biāo)準(zhǔn)配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析，是大中型企業(yè)質(zhì)量控制的理想選擇。
針對(duì)需求滿足的解決方案
建筑材料/水泥
耐火材料/陶瓷
冶金礦產(chǎn)/采礦
金屬材料
學(xué)術(shù)研究、教學(xué)
玻璃、石墨
土壤調(diào)查/元素分析
工藝控制
成分質(zhì)量控制
成分檢測(cè)
檢驗(yàn)設(shè)備
成分指令控制
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.1分鐘即可完成準(zhǔn)確測(cè)試，換樣抽真空時(shí)間小于15秒
2.下照式X射線檢測(cè)，*避免樣品破碎造成的儀器故障，提使用效率
3.采用精度流氣密度穩(wěn)定器(技術(shù))
4.標(biāo)準(zhǔn)配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析
5.引入測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)、測(cè)試的短期和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
6.配備經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論影響系數(shù)法、基本參數(shù)法等定量分析方法
7.測(cè)試精度遠(yuǎn)優(yōu)于GB/T176-2008對(duì)重現(xiàn)性的要求，輕松滿足行業(yè)需求
產(chǎn)品功能
具有遠(yuǎn)程診斷功能說(shuō)明:我們軟件集成了常用的DCS系統(tǒng)的通訊協(xié)議，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可與工廠的配料系統(tǒng)的控制中心或PLC進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，即可向配料系統(tǒng)傳送分析數(shù)據(jù)，也可傳送配比數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)在線數(shù)據(jù)分析、在線質(zhì)量監(jiān)控。
具有技術(shù)的，快速，安全，性能可靠而實(shí)用的樣品裝卸系統(tǒng)
搖臂式設(shè)計(jì)的樣品裝卸系統(tǒng)，完善的粉末保護(hù)方式，預(yù)真空室和限定位置機(jī)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)度重現(xiàn)性，**，快速穩(wěn)定。光路設(shè)計(jì)示意圖，
XRF色散方法是建立在X射線波動(dòng)性基礎(chǔ)上，依據(jù)布拉格定律（2dsinθ=nλ）對(duì)樣品發(fā)射出的特征X射線及原級(jí)譜線的散射線進(jìn)行分光，再將待測(cè)元素的特征X射線與基體中某些元素的次線射入探測(cè)器并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)放大后，再通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換（ADC）將電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，然后由脈沖度分析器篩除次線、晶體熒光等，通過(guò)數(shù)據(jù)處理將特征X射線強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為濃度。
連續(xù)72小時(shí)檢測(cè)Ca:Ka譜線的強(qiáng)度，達(dá)到Q<1.1，Si:Ka譜線的強(qiáng)度，達(dá)到Q<1.05, 其他譜線輕易就可達(dá)到Q<1.02，
儀器采用WdxAnalyzer V1工作站，人機(jī)對(duì)話的軟件界面、模塊化的操作按鈕，不同權(quán)限的操作員憑密碼登陸、輸出報(bào)告可選多種模式等特點(diǎn)。
性能指標(biāo)
典型白生料樣品的實(shí)測(cè)分析精度（60S），于GB/T176-2008對(duì)重現(xiàn)性的要求。 | |||||||||
氧化物 | SiO2 | Al2O3 | Fe2O3 | CaO | MgO | Na2O | K2O | SO3 | Clˉ |
分析譜線 | Si:Ka | Al:Ka | Fe:Ka | Ca:Ka | Mg:Ka | Na:Ka | K:Ka | S:Ka | Cl:Ka |
□n-1≤ | 0.03 | 0.02 | 0.01 | 0.035 | 0.02 | 0.02 | 0.01 | 0.01 | 0.0007 |
重現(xiàn)性(%) | 0.10 | 0.06 | 0.05 | 0.15 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.002 |
GB/T176-2008 對(duì)重現(xiàn)性的要求（%） | 0.20 | 0.2 | 0.15 | 0.25 | 0.15 | 0.05 | 0.15 | 0.15 | 0.003 |
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