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簡要描述：陶瓷原料元素成分分析儀 陶瓷鑒定機器設備原土地、污染水、廢水、等有害物質的現(xiàn)場處置并給污染控制、補救方法的深度分析提供理論依據(jù)。
產品型號：廠商性質：生產廠家更新時間：2025-11-07訪 問 量：3589產品分類
Product classification詳細介紹
陶瓷原料元素成分分析儀
分析元素及模式測量范圍：Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Mo,Ag,Cd,Sn,Sb,W,Au,Hg,Pb,Bi,,Th,U,Sc,Cs,Te,Pd,Hf,Ta,Re,Ge,,I等多個元素。
用途及應用領域
1、現(xiàn)場監(jiān)測RCRA所涉及的金屬和優(yōu)先控制的污染金屬。
2、可對：沙粒、污泥、固體廢棄物、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等分析。
3、原土地、污染水、廢水、等有害物質的現(xiàn)場處置并給污染控制、補救方法的深度分析提供理論依據(jù)。
4、因環(huán)境污染而導致的疾病與很多重金屬元素有關。
技術參數(shù)及規(guī)格
便攜式X熒光光譜儀可適用于多種檢測需求，如應急事故調查、土壤普查、污染場地調查、環(huán)境污染監(jiān)察執(zhí)法等土壤、沉積物、固廢類型樣品中的重金屬元素檢測分析。
1、測量范圍：Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Mo,Ag,Cd,Sn,Sb,W,Au,Hg,Pb,Bi,,Th,U,Sc,Cs,Te,Pd,Hf,Ta,Re,Ge,,I等元素。
陶瓷原料元素成分分析儀
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷、耐火材料等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環(huán)境保護、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質量檢驗、醫(yī)療器械重金屬含量測試、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。
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