檢測銅合金儀器

我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)（環(huán)保ROHS和鹵素檢測）：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素檢驗(yàn)等等?？傊N售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測。

檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），簡單方便的是X熒光光譜儀（手持式或臺式），精度更高穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

X射線熒光光譜分析儀：

X射線熒光光譜分析儀 應(yīng)對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務(wù)于各大重要部門。

手持式儀器資料：

詳細(xì)信息

合金分析儀用途及應(yīng)用領(lǐng)域
用于現(xiàn)場，無損，快速，準(zhǔn)確分析檢測合金元素和合金pai號的識別。
•  合金材料鑒別（PMI）
   來料檢驗(yàn)；庫存材料管理；安裝材料復(fù)檢。由于在石化建設(shè)，金屬冶煉，壓力容器，電力電站，石油化工，精細(xì)化工，制藥，航空航天等行業(yè)中，

Delta合金分析儀用以確保生產(chǎn)設(shè)備與管道中所使用的合金零部件與設(shè)計要求的規(guī)格**。Delta合金分析儀攜帶方便，使用簡單，分析速度快，精度，其結(jié)果直接顯示合金pai號、金屬成分的百分比含量，從而使Delta合金分析儀成為合金材料鑒別的世界di一供應(yīng)商。
•  廢舊金屬回收
   廢舊金屬的回收、再利用需要Delta合金分析儀，確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質(zhì)，進(jìn)行現(xiàn)場快速準(zhǔn)確的分析檢測。為購銷雙方在原材料交易時作出迅速、可靠的判定，

•  質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）
   
可分析的常見合金
鐵合金系列：不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼、工具剛
鎳基合金系列：鎳合金、鎳/鈷超合金
鋁合金
鈦基合金系列
銅基系列：青銅、黃銅、銅鎳合金
鈷基合金系列
溫合金：
鉬鎢合金
混雜合金系列
儀器自帶384個標(biāo)準(zhǔn)合金pai號，用戶可自定義300多種合金等級pai號
分析模式及其所分析的元素范圍
元素分析范圍：從22號元素鈦到94號元素钚Pu，儀器標(biāo)準(zhǔn)配置元素如下。
Alloy PLUS模式：Mg、Al、Si、P、、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hf、Ta、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等元素。
FastID快速識別模式：384種標(biāo)準(zhǔn)合金pai號等級及客戶自定義300多種合金pai號等級。
(可以根據(jù)客戶需要增加其他元素)
du家專有的儀器接駁座

分析軟件
基于windows CE 的分析軟件
• 超大的圖標(biāo)顯示，菜單式驅(qū)動

的技術(shù)性能
• 的X射線管，無壓電源線，無RF噪音干擾。更好的X射線屏蔽。
•  整機(jī)使用鋁合金固定和保護(hù)，頂部加開槽式散熱裝置，根本性解決XRF儀器存在的散熱問題。
•  工業(yè)級觸摸顯示屏與主機(jī)一體化密封設(shè)計，堅固耐磨，不易劃傷。
•  顯示屏采用白光顯示技術(shù)，強(qiáng)烈陽光下也能清晰顯示，且能耗低。
•  基于windows CE 6.0的Innov-x分析軟件。
•  超大的圖標(biāo)顯示，菜單式驅(qū)動，使用和操作更輕松、更簡單。
•  更快的分析速度，2秒即顯示分析結(jié)果，可現(xiàn)場查看光譜。
•  現(xiàn)場獲取校準(zhǔn)曲線。

X光譜儀臺式器資料：

性能特點(diǎn)
效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）

光電直讀光譜儀產(chǎn)品介紹：

儀器優(yōu)勢：

1、CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）、通道不受限制 ；

2、國內(nèi)生產(chǎn)真空CCD/CMOS全譜技術(shù)光譜儀的制造商；

3、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用

4、升級多基體方便，無須變動增加硬件 ；

5、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)一致性 ；

6、體積小、重量輕， 移動安裝方便 ；

7、高集成度、高可靠性、高穩(wěn)定性 ；

直讀光譜分析主要特點(diǎn)：

1、可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；

2、分析速度快捷，20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時間及標(biāo)線，使儀器用短的時間達(dá)到優(yōu)的分析效果；

3、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室， 激發(fā)時產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測定結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性；

4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計，使真空室容積更小；

5、自動光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動識別特定譜線，與原存儲線進(jìn)行對比，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定；

6、開放式的電極架設(shè)計，可以調(diào)整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；

7、工作曲線采用國際標(biāo)樣，預(yù)做工作曲線，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成，自動扣除干擾；

8、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料 ；

9、固態(tài)吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高長期運(yùn)行穩(wěn)定性；

10、銅火花臺底座，提高散熱性及堅固性能；

11、合理的氬氣氣路設(shè)計，使樣品激發(fā)時氬氣沖洗時間縮短，為用戶節(jié)省氬氣；

12、采用鎢材料電極，電極使用壽命更長，并設(shè)計了電極自吹掃功能，清潔電極更加容易；

13、高性能DSP及ARM處理器，具有高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動實(shí)時監(jiān)測光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊 的運(yùn)行狀況；

14、儀器與計算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接，抗干擾性能好，外部計算機(jī)升級與儀器配置無關(guān)，使儀器具有更好的適用性；

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